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干涉仪主要由光源、干涉系统、光检测器以及信号处理电路等组成，干涉仪的检测原理主要基于光的干涉现象，当两束或多束光波在空间某点叠加时，会产生干涉现象，使得光波的振幅和相位发生变化，通过观测和分析这些变化，可以获取有关物体的信息。
干涉仪的检测过程如下：
1、光源发出的光波经过干涉系统后，被分成两束或多束相干光波。
2、这些相干光波在相遇区域形成干涉，产生明暗相间的干涉条纹。
3、这些干涉条纹被光检测器接收，并转换为电信号。
4、信号处理电路对这些电信号进行处理和分析，从而得到有关物体的信息。
不同类型的干涉仪（如激光干涉仪、光纤干涉仪等）在组成和检测原理上可能有所差异，但它们的核心都是利用光的干涉现象来进行测量和分析，干涉仪具有高精度、高灵敏度等特点，广泛应用于光学、光学工程、通信等领域，以上内容仅供参考，如需更多关于干涉仪的信息，可咨询相关技术人员。